提供掃描電鏡測(cè)試服務(wù)：
包含形貌測(cè)試SEM，能譜掃描EDS（點(diǎn)，線(xiàn)，面），電子背散射衍射（EBSD）。高分辨率場(chǎng)發(fā)射電鏡，儀器型號(hào)：FEI-Nova NanoSEM 450, 日立S4800。不導(dǎo)電樣品可噴金，碳（150元/次）。應(yīng)用于各種極具挑戰(zhàn)性的材料的形貌觀察、元素組成和分布測(cè)試、結(jié)構(gòu)和取向分析。如金屬、納米顆粒和粉體、納米管和納米線(xiàn)等各種納米材料、多孔物質(zhì)(如硅、羥基磷灰石)、 塑料電子器件、玻璃基體材料、有機(jī)材料、高分子物質(zhì)、金剛石薄膜、半導(dǎo)體截面、晶體材料、生物樣品、各類(lèi)薄膜材料和截面等。
檢測(cè)費(fèi)用：形貌觀察SEM ：230元/樣。能譜EDS：230元/樣。 SEM+EDS：300元/樣
聯(lián)系人：李名齊 15000724704